Nový automatický optický testovací systém
Datum: 29.03.2012
|
Kategorie: Aktuality
-
CCD kamera 5 Mpx. - Telecentrický objektiv.
- Bílé, třívrstvé kruhové světlo.
- Vyjímečné kontrolní možnosti ve stolním provedení.
- Rozměry DPS: 50 x 40 mm až 330 x 250 mm.
- Tloušťka DPS: 0,4 až 3,0 mm.
- Sortiment kontrolovaných pouzder SMD: Čtverhranný čip 0603 (0402 ve vysokém rozlišení) a více, válcový čip, tantalový kondenzátor, hliníkový elektrolytický kondenzátor, tranzistor, SOP/QFP (rozteč 0,3 mm a více), konektor, vývody diskrétních součástek, atd.
- Rozlišení: 15.5 µm (standardní rozlišení), 11 µm (vysoké rozlišení – je nutné změnit objektiv, výměna je možná uživatelsky.)
Více informací o novém automatickém optickém testovacím systému SI-V100 >>
